一种通用FLASH芯片功能测试方法及设备及介质

本发明公开了一种通用FLASH芯片功能测试方法及设备及介质，涉及芯片测试技术领域，包括测试主控板，通过458通信协议与测试底板间实现数据传输；测试底板包含多个工位，每个工位均通过插座与单个测试子板的插头进行连接，实现数据传输；不同测试子板用于固定不同型号的FLASH芯片；利用调试程序对测试主控板及测试底板进行调试，并通过选择按钮及相应指示灯配合，对FLASH芯片型号进行手动配置，通过测试程序与FLASH芯片型号进行验证，验证通过后，启动对FLASH芯片功能测试；观察测试主控板上关于工位指示灯的状态，判断是否通过相应功能测试，完成对FLASH芯片的功能测试。本发明能完成不同型号FLASH芯片的多工位自动化功能测试，大幅提高了对FLASH芯片的筛选效率。