一种基于非线性余弦编码的三维测量方法

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推荐专利
一种基于非线性余弦编码的三维测量方法
申请号:CN202511388550
申请日期:2025-09-26
公开号:CN120868972B
公开日期:2025-12-09
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于非线性余弦编码的三维测量方法,步骤一:生成N步相移编码,构建波长‑De Bruijn元素映射表,生成非线性余弦编码和非线性余弦分量编码;步骤二:逐帧投影相移条纹和非线性余弦编码条纹至被测对象,获取调制图案并进行解码,得到包裹相位和非线性余弦分量;步骤三:构建近似相位对包裹相位做相位展开,得到局部连续相位,并分割成局部相位;步骤四:最小化局部相位区域的余弦分量误差来检索出相位阶次,从而实现相位展开,得到误差绝对相位;步骤五:对误差绝对相位进行相位修复,得到无误的绝对相位,并结合结构光系统参数重建物体三维模型。本发明仅使用单帧图案就可以实现高精度相位展开,大大提高了三维测量效率。
技术关键词
包裹相位 三维测量方法 非线性 投影仪 物体三维模型 结构光系统 波长 强度 高精度相位 工业相机 像素 误差相位 元素 编码图案 条纹图案
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沪ICP备2023015588号