基于人工智能模型的通用测试机的芯片测试方法及系统

本发明涉及芯片测试技术领域，具体提供了一种基于人工智能模型的通用测试机的芯片测试方法及系统。该方法包括：根据待测芯片的规格文件，通过训练好的规格理解模型，生成规格文件对应的测试计划；将测试计划和通用测试机的参数数字孪生模型，输入训练好的参数转换模型，由参数转换模型输出对应的测试电路和测试程序，测试电路包括通用测试机中的可编辑电路；根据可编辑电路和测试程序，利用训练好的固件编程模型，输出测试电路符合测试程序的编程程序；将编程程序和测试程序部署在通用测试机上，对待测芯片进行测试。解决了相关技术中通用测试机，需要依赖人工开发测试程序进行测试，存在效率低的问题。