信号完整性测试方法、装置及存储介质

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推荐专利
信号完整性测试方法、装置及存储介质
申请号:CN202511462219
申请日期:2025-10-14
公开号:CN120931505A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种信号完整性测试方法、装置及存储介质,涉及芯片测试技术领域,其方法包括:获取当前时刻之前待测试系统对应的第一数据眼图;对待测试系统进行信号完整性测试,获得所述待测试系统对应的第二数据眼图;将所述第二数据眼图与所述第一数据眼图进行叠加融合处理,获得中间数据眼图;基于所述中间数据眼图确定所述待测试系统对应的目标数据眼图;通过将待测试系统多次信号完整性测试得到的数据眼图进行融合处理后确定目标数据眼图,通过目标数据眼图提升待测试系统的数据端口接收数据的准确性,进而提升了待测试系统信号完整性的可靠性。
技术关键词
信号完整性测试 测试环境参数 数据 芯片测试技术 测试模块 可读存储介质 电压 计算机 处理器 端口
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