一种基于感兴趣区域优化的三维多核波谱扫描定位方法和系统

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推荐专利
一种基于感兴趣区域优化的三维多核波谱扫描定位方法和系统
申请号:CN202511467896
申请日期:2025-10-15
公开号:CN120959715A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于感兴趣区域优化的三维多核波谱扫描定位方法和系统,方法包括:获取高分辨率结构像数据,划分一个或多个感兴趣区域,得到对应的掩膜信息;基于感兴趣区域的类型进行优化,通过多尺度搜索得到高分辨率解剖像空间的磁共振波谱成像最优定位网格信息;获取T1加权结构像作为磁共振波谱成像扫描的基准空间,基于所述掩膜信息,将磁共振波谱成像定位网格信息映射至基准空间;基于配准至基准空间的磁共振波谱成像定位网格信息进行磁共振波谱成像扫描,通过扫描‑分析‑优化‑扫描的闭环实现多核波谱扫描自动优化定位。本发明实现感兴趣区域与磁共振波谱成像体素的精准对齐、实时三维磁共振波谱最优定位并简化后处理。
技术关键词
磁共振波谱成像 扫描定位方法 定位网格 感兴趣 高分辨率结构 磁共振扫描仪 分析子系统 扫描子系统 基准 三维磁共振波谱 掩膜 采集磁共振数据 扫描定位系统 线圈 空间坐标信息 多通道 矩阵 覆盖率 深度学习模型 多尺度
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沪ICP备2023015588号