基于深度学习的AMC传感器阵列空间特征识别与泄漏点检测方法

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推荐专利
基于深度学习的AMC传感器阵列空间特征识别与泄漏点检测方法
申请号:CN202511472095
申请日期:2025-10-15
公开号:CN120951145B
公开日期:2025-12-09
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于深度学习的AMC传感器阵列空间特征识别与泄漏点检测方法,涉及传感器技术领域,该方法包括:对预处理结果进行空间相关性分析,提取反映气体空间分布特性的空间特征信号;运用经验模态分解算法对去噪后的空间特征进行分解,得到若干个固有模态分量,基于各固有模态分量生成重建信号;运用分帧加窗技术对重建信号进行分帧处理,并基于分帧处理结果计算对应帧的能量值与过零率,结合提取的空间特征信号,构建泄漏感知模型,生成泄漏概率分布序列;将时序窗口序列输入至自编码器,结合知识蒸馏机制与对比分析技术,执行气体泄漏点检测。本发明实现了空间特征信号的精准提取与去噪处理,提升信号质量,进一步提高了检测精度。
技术关键词
泄漏点检测方法 传感器阵列 经验模态分解算法 权重策略 序列 气体泄漏点 时序 信号 信息熵 深度学习框架 权重分配机制 编码器 注意力机制 样本 蒸馏 动态 信息识别技术 空间拓扑结构 滑动窗口技术 多尺度
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沪ICP备2023015588号