一种内部信号可调的芯片修调测试电路

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种内部信号可调的芯片修调测试电路。本发明实施例提供的内部信号可调的芯片修调测试电路，设置测试模块选择电路和逻辑信号发生电路，通过其第一端接收到一个输入信号后，即可输出选择信号和修调信号控制相应测试模块工作，测试模块产生内部信号对修调熔丝进行处理，从而降低芯片修调测试电路的操作难度，简化芯片修调测试电路的操作流程。